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Please use this identifier to cite or link to this item: http://ntour.ntou.edu.tw:8080/ir/handle/987654321/5719

Title: Z 掃描量測氮化銦薄膜的非線性光學特性
Characterization of optical nonlinearity of InN thin films by z-scan technique
Authors: Jung-Cheng Liao
廖容呈
Contributors: NTOU:Institute of Optoelectronic Sciences
國立臺灣海洋大學:光電科學研究所
Keywords: z-掃描;非線性光學;氮化銦
z-scan;InN;nonlinear
Date: 2006
Issue Date: 2011-06-22T08:37:22Z
Abstract: 我們利用z掃描技術來研究高品質氮化銦薄膜的非線性光學特性。當我們以能量大於氮化銦薄膜能隙的光子入射,光子能量分別為2.33eV(0.71ns)與1.57eV(100fs);在開孔徑z掃描的實驗中,我們看到有很強的飽和吸收效應;在閉孔徑z掃描的實驗中,我們看到有很強的正非線性折射率(n2>0 )。經由實驗結果,我們得到氮化銦在入射光子能量為2.33eV的非線性吸收係數為-9.6e-4cm2/W,在入射光子能量為1.57eV的非線性吸收係數為-3.2e-7cm2/W,非線性折射率為1.5e-7cm2/W。
URI: http://ethesys.lib.ntou.edu.tw/cdrfb3/record/#G0M94880054
http://ntour.ntou.edu.tw/ir/handle/987654321/5719
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