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Please use this identifier to cite or link to this item: http://ntour.ntou.edu.tw:8080/ir/handle/987654321/40666

Title: 利用整體經驗模態分解法處理光學檢測中的混合條紋訊號
Authors: 陳昱達(Yu-Ta Chen);歐陽盟(Meng Ouyang);吳順德(Shuen-De Wu);林修國(Shiou-Gwo Lin);李正中(Cheng-Chung Lee);邱俊誠(Jin-Chern Chiou);李幸璁(Sing-Tsung Lee)
Contributors: 國立臺灣海洋大學:通訊與導航工程學系
Date: 2012
Issue Date: 2017-02-06T03:23:57Z
Publisher: 科儀新知
Abstract: 摘要:條紋分析法在光學檢測中是一門重要的檢測技術,透過光學檢測方法能獲得高品質的光學元件。光學檢測中利用擷取到的干涉圖來分析,並藉此提升光學元件品質,但常會有混合條紋影響到干涉圖形。在本文中,我們透過傾斜像差來模擬混合條紋的影響,並使用幾個去混合條紋雜訊的方法來還原原始條紋及重建其光程差。將雜訊干涉圖形使用整體經驗模態分解法來分解並得到本質模態函數,接著將特定的本質模態函數移除,來降低混合條紋雜訊的影響。經過處理的雜訊干涉圖形,將可以輕易地利用條紋分析法來重建原始條紋的光程差。將模擬的混合條紋雜訊干涉圖形經由整體經驗模態分解法來降低其混合條紋雜訊後,重建的光程差與原始條紋的光程差均方根值相差0.081個波長。在實驗中,整體經驗模態分解法在處理較直的干涉條紋時能有較佳的分解能力,但對於較彎曲的干涉條紋,則不易將雜訊與原始訊號分離。
Relation: 190
URI: http://ntour.ntou.edu.tw:8080/ir/handle/987654321/40666
Appears in Collections:[通訊與導航工程學系] 期刊論文

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