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Title: 靜電放電對手機電容式觸控面板影響之全波分析
Full Wave Analysis of the Electrostatic Discharge on the Capacitive Touch Panel for Cellular Phones
Authors: Jia-Wei You
游家瑋
Contributors: NTOU:Department of Electrical Engineering
國立臺灣海洋大學:電機工程學系
Keywords: 手機;電容式觸控面板;靜電放電;靜電防護
Cellular Phones;Capacitive Touch Panel;ESD;ESD protection
Date: 2013
Issue Date: 2013-10-07T03:01:48Z
Abstract: 以往電子產品的靜電耐受度測試都是在產品完成生產後直接測試,而本論文即利用 CST MWS這套電磁模擬軟體,針對手機電容式觸控面板受到靜電放電後所產生的影響及解決對策進行了模擬與分析。論文中提到了4種改善對策可以降低導線上的切向磁場值降。低訊號導線表面磁場值就間接可以降低訊號導線上的瞬間大電流,如此就可以降低觸控面板訊號線受瞬間靜電電流燒毀的機會。
URI: http://ethesys.lib.ntou.edu.tw/cdrfb3/record/#G0010053029
http://ntour.ntou.edu.tw/handle/987654321/36016
Appears in Collections:[電機工程學系] 博碩士論文

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