English  |  正體中文  |  简体中文  |  Items with full text/Total items : 27308/39152
Visitors : 2463212      Online Users : 269
RC Version 4.0 © Powered By DSPACE, MIT. Enhanced by NTU Library IR team.
Scope Adv. Search
LoginUploadHelpAboutAdminister

Please use this identifier to cite or link to this item: http://ntour.ntou.edu.tw:8080/ir/handle/987654321/17767

Title: 全自動多功能太陽能電池檢測系統應用於無電鍍濕蝕刻矽奈米線太陽能電池之特性探討與分析
Development of a fully automatic multi-functional solar cell characterization system: application to solar cells with aligned silicon nanowires prepared by electroless etching
Authors: 謝昌翰
Contributors: NTOU:Institute of Optoelectronic Sciences
國立臺灣海洋大學:光電科學研究所
Keywords: 太陽能量測;量子效率;無電鍍濕蝕刻
Date: 2009
Issue Date: 2011-07-04
Abstract: 我們參考國際材料試驗協會(ASTM)訂定之標準,利用三軸移 動平台建立了一套具有光偏壓全自動可量測外部量子效率以及 I-V 特性的太陽能電池量測系統。我們示範將之應用於量測矽基 板平面太陽能電池、矽奈米線太陽能電池、有機太陽能電池、染 料敏化太陽能電池。進而,再比較矽基板太陽能電池於不同鈍化 條件下的差異。 我們發現矽奈米線太陽能電池,在偏壓光下會發生轉換效率 變差的問題,這與平面矽太陽能電池在不同強度照射時的不變表 現明顯不同。我們初步推斷造成這個現象的原因,可能是由於矽 奈米線吸收大量的入射光之後,產生大量的電子電洞對在矽奈米 線上,由於矽奈米線很細,因此,在強光照射下,大量的電子電 洞對密集的產生在狹窄的奈米線上,造成再結合的機會大幅增 加,進而使整個轉換效率下降。
URI: http://ethesys.lib.ntou.edu.tw/cdrfb3/record/#G0M96880016
http://ntour.ntou.edu.tw/ir/handle/987654321/17767
Appears in Collections:[光電科學研究所] 博碩士論文

Files in This Item:

File Description SizeFormat
index.html0KbHTML149View/Open


All items in NTOUR are protected by copyright, with all rights reserved.

 


著作權政策宣告: 本網站之內容為國立臺灣海洋大學所收錄之機構典藏,無償提供學術研究與公眾教育等公益性使用,請合理使用本網站之內容,以尊重著作權人之權益。
網站維護: 海大圖資處 圖書系統組
DSpace Software Copyright © 2002-2004  MIT &  Hewlett-Packard  /   Enhanced by   NTU Library IR team Copyright ©   - Feedback